Akkreditierte Verfahren am Standort Dresden

Urkunde Nr. D-PL-14115-10-00

 

Bestimmung von Asbest und partikelförmigen Inhaltsstoffe in Luft, Materialproben und Ablagerungen

BIA 7487

Verfahren zur analytischen Bestimmung geringer Massengehalte von Asbestfasern in Pulvern, Pudern und Stäuben mit REM/EDX

BGI/GUV-I 505-46

Verfahren zur getrennten Bestimmung der Konzentrationen von lungengängigen anorganischen Fasern in Arbeitsbereichen - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
(ab Kapitel 2 Abschnitt 2.3)

VDI 3492

Messen von Innenraumluftverunreinigungen - Messen von Immissionen - Messen anorganischer faserförmiger Partikeln - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren

VDI 3861 Blatt 2

Messen von Emissionen - Messen anorganischer faserförmiger Partikel im strömenden Reingas - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren (nur Analytik)

VDI 3866 Blatt 1

Bestimmung von Asbest in technischen Produkten - Grundlagen - Entnahme und Aufbereitung der Proben

VDI 3866 Blatt 5

Bestimmung von Asbest in technischen Produkten - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren

VDI 3877 Blatt 1

Messen von Innenraumverunreinigungen - Messen von auf Oberflächen abgelagerten Faserstäuben - Probennahme und Analyse (REM/EDXA)

Hausverfahren
(SOP M 935)

Untersuchung von künstlichen Mineralfasern (KMF) zur Einstufung gemäß TRGS 905

Hausverfahren
(SOP M 2903)

Untersuchung von Kontaktproben auf Asbest mittels Rasterelektronenmikroskopie mit energiedispersiver Röntgenmikroanalyse

 

Ausgewählte mechanisch-technologische Prüfungen von Stählen

DIN EN ISO 2639

Stahl - Bestimmung und Prüfung der Einsatzhärtungstiefe

DIN EN ISO 6507-1

Härteprüfung nach Vickers - Teil 1: Prüfverfahren

DIN EN 10328

Eisen und Stahl - Bestimmung der Einhärtungstiefe nach dem Randschichthärten

DIN 50190-3

Härtetiefe wärmebehandelter Teile - Ermittlung der Nitrierhärtetiefe

 

Ausgewählte metallographische Untersuchungen

DIN EN ISO 643

Stahl - Mikrophotographische Bestimmung der erkennbaren Korngröße (2017-09: Entwurf)

DIN EN ISO 1463

Metall- und Oxidschichten - Schichtdickenmessung - Mikroskopisches Verfahren

 

Untersuchungen an Werkstoffen und Produkten mittels Röntgendiffraktometrie und Rasterelektronenmikroskopie

DIN EN 13925-2

Zerstörungsfreie Prüfung - Röntgendiffraktometrie von polykristallinen und amorphen Materialien - Teil 2: Verfahrensabläufe

Hausverfahren
(SOP M 446)

Abbildung von Probenoberflächen und Schliffen mit Sekundär- und Rückstreuelektronen und Analyse mittels REM/EDX bzw. ESEM/EDX

Hausverfahren
(SOP M 502)

Allgemeines Messverfahren der Rasterelektronenmikroskopie (REM/ESEM) und energiedispersiven Röntgenmikroanalyse (EDX)

 

Dotandenprofilmessung an Halbleiter-Materialien mittels SRP und SIMS

Hausverfahren
(SOP M 1179)

Dotandenprofilmessungen an Halbleitermaterialien mittels Spreading Resistance Profiling (SRP)

Hausverfahren
(SOP M 1183)

Dotandenprofilmessungen in Halbleitermaterialien mittels Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS)

 

Oberflächen-, dünnschicht- und mikroanalytische Prüfungen von Werkstoffen mittels XPS und EPMA (ESMA)

Hausverfahren
(SOP M 1177)

Oberflächen-, dünnschicht- und mikroanalytische Untersuchungen von Werkstoffen mittels Photoelektronenspektrometrie (XPS X-ray Photoelectron Spectrometry)

Hausverfahren
(SOP M 1178)

Oberflächen-, dünnschicht- und mikroanalytische Untersuchungen von Werkstoffen mittels Elektronenstrahlmikroanalyse (EPMA Electron Probe Microanalysis)

 

Bestimmung von Materialkenngrößen von Kunststoffen mittels Thermoanalyse*

DIN EN ISO 11357-1

Kunststoffe - Dynamische Differenz-Thermoanalyse (DSC)
Teil 1: Allgemeine Grundlagen

DIN EN ISO 11357-2

Kunststoffe - Dynamische Differenz-Thermoanalyse (DSC)
Teil 2: Bestimmung der Glasübergangstemperatur und der Glasübergangsstufenhöhe

DIN EN ISO 11357-3

Kunststoffe - Dynamische Differenz-Thermoanalyse (DSC)
Teil 3: Bestimmung der Schmelz- und Kristallisationstemperatur und der Schmelz- und Kristallisationsenthalpie

DIN EN ISO 11357-6

Kunststoffe - Dynamische Differenz-Thermoanalyse (DSC)
Teil 6: Bestimmung der Oxidations-Induktionszeit (isothermische OIT) und Oxidations-Induktionstemperatur (dynamische OIT)

DIN EN ISO 11358

Kunststoffe - Thermogravimetrie (TG) von Polymeren: Allgemeine Grundsätze

 

Prüfungen an Halbleiterprodukten mittels Rasterelektronenmikroskopie

Hausverfahren
(SOP M 455)

Abbildung und Analyse von Probenoberflächen/ Schliffen mittels REM/EDX

 

Innerhalb der mit * gekennzeichneten Prüfbereiche ist dem Prüflaboratorium, ohne dass es einer vorherigen Information und Zustimmung der DAkkS bedarf, die freie Auswahl von genormten oder ihnen gleichzusetzenden Prüfverfahren gestattet.

 

Ihr Ansprechpartner

SGS INSTITUT FRESENIUS GmbH
Königsbrücker Landstr. 161
01109 Dresden

t +49 351 8841-200
Diese E-Mail-Adresse ist vor Spambots geschützt! Zur Anzeige muss JavaScript eingeschaltet sein!

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