Mess- & Analyseverfahren

Die Untersuchung und Bewertung von Materialien, Produkten und Prozessmedien machen den Einsatz moderner Mess- und Analyseverfahren notwendig.

Entsprechend der Aufgabenstellung setzen wir Mess- und Analyseverfahren mit hoher Nachweisempfindlichkeit und hoher Ortsauflösung ein. Das SGS INSTITUT FRESENIUS verfügt über umfangreiche analytische Erfahrungen und betreibt modernste Dienstleistungslabore. Wir unterstützen Sie gern bei Ihrer Produktentwicklung, der Prozess- und Fertigungskontrolle sowie bei der Fehler- und Schadensanalyse.

Unsere Laborausrüstungen und Analyseverfahren (Auszug)

Materialanalytik

  • Metallografie / Lichtmikroskopie
  • Härte nach Vickers
  • Funken-Emissions-Spektroskopie (F-OES)
  • Glimmentladungs-Massenspektrometrie (GD-MS)
  • Röntgenfluoreszensanalyse (RFA)
  • Rasterelektronenmikroskopie (REM)
  • Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX)

 

Analytik für die Mikroelektronik

  • Rasterelektronenmikroskopie (REM)
  • Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX)
  • Focussed Ion Beam (FIB) , inkl. Schaltungsmodifikation
  • Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
  • Chip Öffnung (bei Erhalt der Funktion) / Chip Bergung
  • Querschliffpräparation + oberflächenparallele Präp. (Delayering)
  • Röntgenmikroskopie (XRAY)
  • Ultraschallmikroskopie (SAM)
  • Lokalisierung (OBIRCH / EMMI)
  • Ionenchromatografie (PEM-IC) im Reinraum
  • Vapour Phase Decomposition - ICP-MS (VPD-ICP-MS)
  • Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse (TXRF)

 

Physikalische Oberflächenanalyse

 

Chemische Analytik

 

Ihr Ansprechpartner

SGS INSTITUT FRESENIUS GmbH
Königsbrücker Landstr. 161
01109 Dresden

t +49 351 8841-200
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