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Die Business Line Automotive verfügt über 3 Rasterelektronenmikroskope, jeweils mit integrierter Elektronenstrahlmikroanalyse, darunter seit neuem ein ESEM. Alle Geräte liefern Bilder und Spektren in digitaler Form und sind direkt in unser EDV-Netzwerk eingebunden.
Den Kunden stehen damit zeitnah alle Analyseergebnisse, bewertet von hochqualifizierten Mitarbeitern, für Problemlösungen und Einzeluntersuchungen zur Verfügung. Mit dem ESEM wird eine neue Qualität der Rasterelektronenmikroskopie erreicht - SGS INSTITUT FRESENIUS ist dabei. |
Das Rasterelektronenmikroskop (REM) mit integrierter lektronenstrahlmikroanalyse (EDX) ist das unverzichtbare Untersuchungsinstrument für Fehler- & Schadensanalysen. In konventionellen Geräten werden die Proben im Hochvakuum untersucht, sie müssen elektrisch leiten und dürfen nicht ausgasen.
Mit dem Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM) können nun auch isolierende, nasse, ölige oder fettige Proben ohne Vorbehandlung direkt und mit gleichhoher Auflösung abgebildet und analysiert werden, wie präparierte Proben mit konventionellen Geräten. Es verfügt außerdem über neuentwickelte Detektoren mit zusätzlichen Abbildungsmöglichkeiten und kann wie ein konventionelles Gerät auch im normalen Hochvakuummodus betrieben werden.
Einige Leistungsparameter:
XL 30 ESEM mit EDX-System (EDAX)
- Moden: Hochvakuum, LowVac (bis 1,3 mbar), ESEM (bis 26 mbar)
- Detektoren: Standard SE, GSED, BSE (Elementauflösung 0,1 Z)
- Röntgendetektor: UTW-Si-(Li)
- Mikroanalyse: in allen Moden; Punktanalysen, Line-Scans, Multi-Element-Mapping, quantitative Analysen; alle Elemente einschl. Bor
- Motorisierter Probentisch: (x, y, z, r, t), Fahrweg x, y: 100mm
- Hochspannung: 0,2…30kV (kont.)
- Vergrößerung: 5x…400.000x
- Auflösung bei 30kV: 3,5nm in allen Moden
- Präzise Längenmessung: in allen Richtungen in der x-y-Ebene
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SGS INSTITUT FRESENIUS GmbH
CTS Automotive
Herr Dr. Olaf Günnewig
Joseph-von-Fraunhofer-Str. 13
D-44227 Dortmund
t +49 231 9742 - 7303
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